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​电子器件网介绍元件检测的流程

​电子器件网介绍元件检测的流程
来源:网络整理 时间:2021-11-22
电子器件网介绍元件检测的流程

目前国内外企业对于电子元器件质量的管理有不少的局限性不够系统和完整电子器件网‍称完全可以将质量管理系统应用于电子元器件的质量管理中特别是对于低成本元器件及有潜力的供应商可以帮助企业及元器件供应商进行持续的质量分析与改进、实现长期的控制以双赢为重要目标。

1.界定

这一阶段中可以对产品进行实验分析、以及利用排列图等工具进行失效数据分析从所有的电子元器件中鉴别出影响质量关键的部分、以及这些器件在产品中的主要失效模式为之后的测量工作提供分析对象。同时也需要将产品质量要求转化为关键电子元器件的质量要求为确定之后的测量方法提供条件。


2.测量

在确定质量要求并选定关键元器件以后接下来就就需要进入测量阶段需要制定相应的可靠性测试计划针对荧光灯镇流器产品的特点除常规的电性能、机械性能可靠性验证以外通常需要重点进行的是一些加速寿命试验:如高温加速、电应力加速或湿度加速寿命试验等根据界定阶段找到的器件的典型失效模式确定试验的条件和时间长度之后利用MINITAB对实验数据进行分析对失效率进行估计。


3.分析

对于测量过程中获得的结果和数据需要根据不同情况并且利用各种工具进行分析如果试验中没有失效发生那么需要研究的就是数据的分布以及试前试后的参数变化、观察特性参数的变化趋势分析其对实际应用的影响;而如果试验中出现失效那么便需要对失效器件进行相关的分析。


电子器件网‍称失效分析的目的是通过失效机理、失效原因分析获得产品改进的建议避免类似失效的发生提高产品可靠性。分析失效机理使用的工具主要包括X光、超声波、扫描电镜、热点扫描等同时针对不同关键元器件的失效现象需要研究其实效机理从而可以找出需要进行改进的工艺流程、测试方法或者注意事项。

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