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​电子器件网‍解读关键元器件的测量知识

​电子器件网‍解读关键元器件的测量知识
来源:网络整理 时间:2021-11-22

电子器件网‍解读关键元器件的测量知识

电子器件网‍称完成关键电子元器件的界定后接下来便需要进行测试计划的制定和实施由于高温和高电应力是导致电子元器件失效的主要原因在元器件选型后对于它们的长期可靠性测试也是避免元器件在产品标准寿命内发生高失效率的有效方法。

1、产品的失效与寿命分布

实践证明大多数产品的失效率是时间的函数一阶段为早期失效期它说明产品在开始使用时失效率会非常高但随着工作时间的增加失效率又会迅速的降低本阶段的失效原因多数是由原材料、设计或制造中的缺陷导致的。二阶段是偶然失效期也叫随机失效期本阶段的特点是失效率比较低而且较为稳定一般可以近似为常数这个时期便是产品可靠性指标所描述阶段它是产品的良好使用阶段这一阶段失效的主因是材料弱点、质量缺陷、恶劣环境和使用不当等。


2、加速寿命试验的定义与分类

除对器件电气、机械的常规可靠性以外还需要重点考察并估计器件的工作寿命从而帮助生产方预估产品的整体寿命周期。由于当前电子元器件发展很快表现在功能更加复杂、使用环境更加苛刻、技术更新颖、可靠性要求更高、寿命要求更长与此同时产品投放市场的周期更短竞争更为激烈。为应对这样的局面如果仍沿用传统的可靠性测试方法特别是对有长寿命、高可靠性要求的电子元件来说已经不太现实为解决上述矛盾因此加速寿命试验应运而生。加速寿命试验指的是在超过实际工作条件的应力水平下进行的采样寿命试验它加速寿命试验的时间为推测器件的寿命可靠度给出十分重要的依据。


电子器件网‍提醒一定要重点关注耗损失效期此阶段的失效率随着使用时间的增加而急速升高这一阶段失效主要由疲劳、磨损、耗损或老化等原因造成。确定产品的寿命分布类型很重要但要判断其属于哪种分布类型是困难的。特别是在可靠性试验中要分辨属于哪种分布更是困难。

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