来源：中国电子网
时间：2012-11-29
近日，爱德万测试(Advantest)新推出的T2000 8Gbit/s数位模组(8GDM)，满足了系统单晶片(SoC)装置各式介面高速测试需求，包括序列式、并行式，以及记忆介面如PCI-Express与双倍资料传输率(DDR)连接等。该公司并将于今年12月5～7日，在日本千叶县幕张国际展览中心举办的SEMICON Japan国际半导体展上展出T2000 8GDM。
爱德万SoC测试事业体执行长暨执行副总裁Toshiyuki Okayasu表示，全新T2000 8GDM的密度更高、效能更强大，支援多重时域高速介面的复杂SoC装置测试，并具备专为系统层次的功能性测试所设计的FTA功能，可望扩大该公司的市场占有率。
多功能T2000 8GDM可支援各种SoC介面测试，资料传输率高达8Gbit/s，主要功能包括时脉资料回復(CDR)、抖动注入、输入/输出(I/O)死带消除、多重闪控操作等。此模组涵盖在T2000增强型性能解决方案(EPP)中，具功能性测试抽象化功能，将进一步缩短週期时间并简化除错。
爱德万所研发的模组与测试机，不仅拥有高效能运作能力，更可提供高产能、多使用者环境及并列同测功能，达到降低测试成本、加速上市的目标，是半导体厂商面对全球布局挑战不可或缺的设备。
