来源：EEWORLD
时间：2014-09-01
随着智能手机、车载及工业电子的快速发展，全球半导体市场连年稳定增长。根据世界半导体贸易统计组织统计的数据显示，2013～2016年间全球半导体市场将以年均4.7%的速度成长。而中国半导体市场虽然起步较晚，但在人力成本和政策红利的双重推动下，中国半导体产业快速增长。根据Gartner数据显示，中国半导体市场占全球市场份额的比例从2003年的18.5%迅速增长到2012年52.5%，同时涌现了诸如海思、展讯等业界的本土IC企业。
面对巨大的市场蛋糕，很多海外半导体大厂纷纷来大陆投资建厂。尤其是随着中国TD-LTE进程的启动、物联网的爆发，中国半导体市场迎来新一轮增长，这也给爱德万测试这样的半导体测试测量企业带来发展机遇。
不断开拓新型业务 重视中国市场
提到爱德万测试，大家也许并不陌生，这是一家日本测试公司，在半导体测试、仪器仪表、机电一体化等业务领域拥有丰富的技术和有经验。爱德万测试业务战略发展部高级总监陆亚奇表示，拥有先进的IC器件测试技术，包括手机射频SOC电路测试，协议级测试(Protocol Aware Test)技术，高速测试，并发测试技术等。
着眼于全球市场，爱德万测试不断拓展新的业务，如在太赫兹光谱及成像分析、MEMS测试、云测试等新兴领域正不断探索。例如，太赫兹光谱及成像分析可在被测区域任意灵活布置，可在医疗、新材料开发等应用中实现高精度、高效率;云测试是一种创新的业务模式，通过免费提供的硬件接口，客户下载相关应用就可实现按需测试，这种低成本、灵活的测试非常适合那些对成本教育机构和半导体研发单位。
他表示，爱德万非常重视中国市场，从1993年进入中国市场以来，陆续在北京、上海、苏州、成都等地设立分公司或技术服务中心，并于爱德万测试(中国)管理有限公司，致力于为中国市场提供技术支持、产品销售和售后服务。目前，爱德万为展讯、海尔、海信等众多中国客户提供产品和解决方案。
PVI8为V93000提升高电压大电流测试能力 第1000台V93000 Smart Scale出货
V93000和T2000测试平台是爱德万测试的两大旗舰测试平台，以帮助用户应对SOC测试面临的集成度、速度、成本等方面的挑战。近日，爱德万测试对着两大平台进行了升级。
作为全球晶圆封测代工厂所广泛使用的测试平台，V93000提供了先进半导体设计灵活弹性与经济效益的测试解决方案。为强化V93000 对嵌入式电源元件进行高电压大电流测试的能力，爱德万推出了的浮动电源供应单元-- PVI8，可为 V93000 在单一系统上供应足够的电源与充足的类比及数位通道，使该平台足以提高嵌入式电源IC元件平行同测数，为一极具成本效益的测试解决方案。
据悉，PVI8 提供八个浮动通道，具四象限运作功能，每个通道可输出80伏特10安培的电力，八个通道也可集结一起提供±80安培的电流，可以严谨的方式对待测物进行高电源的强压测试。PVI8 采用浮动设计，对于高电压需求的元件，也可提供±160 伏特的电压输出。同时，作业人员可以自由选取量测范围;通过测试图码控制的方式，PVI8可大幅加速在电源测试所需时间，其目标应用包括模拟电源、PMIC、MCU内嵌电源管理等。
爱德万测试应用技术支持部高级经理刘旸兴奋的告诉记者，具有里程碑意义的第1,000台V93000 Smart Scale测试平台于近日出货客户Amkor。从发布至今，不到3年的时间，V93000 Smart Scale就实现了突破，凭借业界首屈一指的6 Gbps以上速度、可弹性调整的架构、广泛的应用范围，满足大量行动消费性电子产品对测试性能与成本的严苛要求，因而获得客户一致认可。
T2000平台再升级 新推 1.6GDM和DPS150AE模块
爱德万测试还推出了T2000平台的模块，包括1.6GDM数字模块和增强型元件电源供应模组DPS150AE。
其中，1.6GDM数字模块旨在提高测试系统的效率芯片的T2000测试平台上系统(SoC)器件，具有业界的单板256通道，1.68Gbps的数据速率，并将时间精确度提升到提升到±75psec，采用数字FTA+实现协议感知测试。值得一提的是，1.6GDM具有矢量模式，使得它与爱德万现有1GDM数字模块完全兼容，同时提供改进的吞吐量和可靠性。
DPS150AE 旨在满足T2000测试平台客户对于MPU、ASIC、FPGA等高电流与低电压半导体的高度精确测试需求，助力T2000平台以低测试成本提升高产能、多组元件同测的测试效能。DPS150AE采用高速汇流排技术并结合爱德万测试的Smart Test Condition Memory(TCM)，让T2000 EPP系统能够进行模组分割，以一个模组并行同测8个元件同时分别监控评估每个待测物。相比上代DPS150A，DPS150AE的上电时间大大减少，缩短用户的测试时间。
