来源：OFweek电子工程网
时间：2014-08-21
OFweek 电子工程 网讯：MEMS麦克风测试商机爆发。随着行动装置、车载资通讯和穿戴式电子扩大导入语音控制功能，MEMS麦克风出货量正快速翻升，带动新一波元件测试商机，激励仪器商加码研发PXI模组化半导体测试仪器，以满足与日俱增的MEMS麦克风测试需求。
由于MEMS麦克风晶片商日益追求更快的测试时程和更低测试成本，因此美商国家仪器遂以LabVIEW可编程软体平台，搭配低成本、高弹性的PXI模组化硬体架构，开发新一代半导体自动化测试系统，期协助MEMS麦克风 芯片 业者突破采用大型自动化测试设备(ATE)，难以降低仪器占位空间和测试成本的桎梏。
美商国家仪器资深销售副总裁Pete Zogas表示，随着MEMS麦克风快速放量，芯片商对测试效率和成本效益的要求也明显提高，遂积极寻求系统层级的PXI自动化测试方案，期以较低成本增加测试产能。
Zogas进一步指出，基于LabVIEW加PXI架构的半导体自动化测试方案，不仅具备模组化、可编程效益，有助元件商快速设定上线、客制化测试流程并降低设备体积，亦可搭配高效能现场可编程闸阵列(FPGA)，引进快速傅立叶转换(FFT)等高阶演算法，进而提高数倍测试速度;对于满足需求急速涌现的MEMS麦克风测试而言，将有莫大助益。
据悉，MEMS麦克风测试须兼顾类比和数位测试功能，而传统ATE虽具有高速数位设计优势，但面临扩充类比资料撷取、转换与分析设备的需求时，就须一笔可观的花费。PXI自动化测试方案结合LabVIEW、PXI与FPGA的优势特性，不仅能满足MEMS麦克风各种类比和数位测试需求，相较于传统ATE系统，更可提升约二十倍的测试速度。
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