来源:EEWORLD
时间:2013-11-06
LAPIS Semiconductor开发出实现丰富色彩与亮度的全彩LED照明用低功耗微控制器
~精细控制且节能,无限演绎不同生活场景下的照明效果~
ROHM旗下的LAPIS Semiconductor开发出可通过精细控制实现丰富色彩与亮度的全彩LED照明用8位低功耗微控制器“ML610Q111/ML610Q112”。
该LSI搭载了 LED照明控制所必需的6通道PWM端口,可控制多个LED,不仅可将白色和暖黄色的单色LED独立控制,而且还可同时控制RGB三色LED,因此,可实现丰富多彩的色彩表现。通过精细控制光源,可无限演绎不同生活场景与内饰的照明效果。
该LSI现样品出售中,预计从2013年12月份开始量产销售。
另外,具备完善的服务支持体制,还为客户准备了可轻松开始评价的配套参考板和软件开发环境,客户只需从LAPIS Semiconductor官网进行用户登录,即可使用各种用户手册和工具。
该LSI将在2013年11月16日~21日于深圳会展中心举行的“第十五届中国国际高新技术成果交易会(ELEXCON2013)”ROHM展区展出(展位号:2号馆2B62)。欢迎莅临!
近年来,LED照明不仅需要具备节能性能,还需要具备丰富的调光与调色功能。以往的照明,主要功能是单纯的亮度调整,而如今的LED照明则是与晨起、休闲、用餐、学习、就寝前等不同生活场景紧密配合的人性化光源,提升室内装饰效果的全彩光源,可实现更丰富的调光与调色。在这种背景下,ROHM集团发力LED照明相关业务领域,LAPIS Semiconductor充分发挥与ROHM拥有的LED技术的相乘效应,致力于开发适用于LED照明控制的微控制器。
1. 搭载LED控制所必需的6通道PWM
为实现丰富多彩的LED照明的调光与调色功能,搭载LED控制所必需的6通道PWM(Pulse Width Modulation),是一款可控制三种单色LED(比如白色、暖黄色、橙色)与RGB三色LED的8位微控制器。PWM的分辨率皆为16bit,可通过自由编程来实现丰富多彩的调光与调色模式。
2. 内置振荡电路,可减少外置部件
PWM控制时钟由新开发的时钟振荡电路生成,与内置逻辑电源用稳压器组合使用,不仅可减少外置逻辑电源电容等外部零部件数量,而且采用小型封装,还非常有助于安装基板的小型化。
3. 内置比较器,可灵活应对外部环境的变化
通过比较器监视突发的电压变动等外部环境的变化,可即刻处理,有助于稳定运行。
4. LAPIS Semiconductor引以为豪的低功耗微控制器,有助于节能
搭载了实现业界顶级低功耗的独创高性能8bit RISC内核。
5. 在严苛的噪音环境下也可放心使用
通过精心优化电路与布局,确保了高抗电磁干扰性能,测量界限超越了国际电工委员会(IEC)标准IEC61000-4-2中规定的级别4(±15kV),实现了±30kV注1的电磁兼容性。因此,该产品还可放心的在噪音环境要求苛刻的工业设备中使用。
6. 完善的服务支持体制
公司准备了可轻松开始评价的参考板、软件开发环境、用户手册、示例软件,客户在LAPIS Semiconductor官网进行用户登录,即可使用其中的各种手册和工具等,为客户提供了完善的服务支持体制。
【规格】
-内置LAPIS Semiconductor独创的高性能8bit RISC内核
-高精度振荡 (8.192MHz) ±1%(25℃)、±2%(-10~85℃)、±2.5%(-40~85℃)
-无需外置逻辑电源电容
-24KB Flash+2KB RAM(ML610Q111)、32KB Flash+4KB RAM(ML610Q112)
-4KB Data Flash
-8bit定时器x6 (8bit定时器x2可作为16bit定时器使用)
-16bit PWM x6 (可16.384MHz工作)
-具备标准电压、差分输入切换功能的迟滞比较器x1
-标准电压比较器x1
-10bit逐次比较型A/D转换器 6ch(ML610Q111)、8ch(ML610Q112)
-电源电压监视电路
-工作频率 32kHz~8.192MHz
-工作温度 -40~85℃
-电源电压 2.7~5.5V
-封装 ML610Q111 TSSOP20(6.5mm X4.4mm)
ML610Q112 LQFP32(7.0mm X7.0mm)
【销售计划】
-商品名 ML610Q111/ML610Q112
-样品出售时间 样品出售中
-样品价格(参考) ML610Q111 150日元(不含税)
ML610Q112 200日元(不含税)
-量产销售计划 2013年 12月起 (TSSOP20、LQFP32)
【应用领域】
LED照明 / 单相风扇电机 / 电池充电控制等、其他各种家电、工业设备。
【术语解说】
注1 用LAPIS Semiconductor参考板以间接放电方法进行测试。