来源:电子工程网
时间:2013-07-23
高级
自动化测试
与高性能的嵌入式系统可采用基于PXI的扩展I/O和FPGA访问功能,而不再依赖于过去的自定义解决方案。
美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)将其NI FlexRIO (基于FPGA的可重配置I/ O产品系列)扩展至20多个模块。 六个新的适配器模块添加包括数字化仪、信号生成以及IF和RF收发仪功能的I/O。 工程师将这些NI FlexRIO适配器模块与用户可编程FPGA搭配,解决大部分测试应用程序问题,包括实时频谱监测和RF调制/解调、信号情报和RF通信协议的原型化。 这些模块得益于NI LabVIEW RIO架构的并行机制与数据流编程,工程师因而无需掌握VHDL或Verilog知识,就能很容易地进行使用。 组合NI FlexRIO、LabVIEW系统设计软件,以及600多个NI PXI模块化仪器,工程师能够利用FPGA技术自定制商业现成(COTS)的解决方案。 NI测试系统总监Charles Schroeder表示:“我们近期对用户可编程的FPGA仪器进行的投资,不仅包含这些新的NI FlexRIO适配器模块,还有NI PXIe-5645R矢量信号收发仪,表明了我们重新定义仪器的长远愿景”, “NI FlexRIO的平台通过NI LabVIEW的RIO架构,能够帮助客户创造出为强大的测试、研究和嵌入式系统。” 产品特性
想进一步了解相关产品信息,请访问 www.ni.com/flexrio/zhs/。 |