来源：电子工程网
时间：2013-06-21
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2013年6月- 6月18日，美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）在长春开启 2013 年 NI 车辆
交通
行业巡回研讨会站。来自 NI 及其合作伙伴的行业专家就 NI 在
汽车
行业设计仿真和测试等领域的主要应用方向、技术方案和进展向到场的广大汽车行业专家及工程师作了介绍。接下来，此次研讨会还将在广州、武汉和上海三个车辆行业重点城市举行，敬请关注。
此次巡回研讨会涉及的应用方向主要包括下列内容： •In-Vehicle Data Logging 车载数据采集 •Rapid Control Prototyping 快速原型设计 •Hardware-in-the-Loop Simulation 硬件在环仿真 •Test Cell Measurement and Control 台架测试与控制 •End-of-Line Test 零部件产线测试 •Infotainment Test 车载信息系统测试 •Data Management 测试数据管理 •Functional Safety 功能安全性设计 •Vehicle Electrification 新能源汽车测试 NI 在这几站的巡回研讨会中，会展示包括 PXI 模块化测控平台、CompactDAQ 数据采集平台、便携式数据采集和总线通讯产品等全系列相关产品和发动机控制器设计仿真与燃烧分析测试、硬件在环仿真等系统方案。 不论是汽车、工程机械还是轨道交通行业，市场上激烈的竞争迫使工程师们只有使用更加高效、可靠的解决方案，才能有足够的灵活性，不断满足未来需求。如今，很多整车厂商与供应商都采用美国国家仪器平台实现各种汽车车辆行业测控应用。从原型概念构思、硬件在环仿真到实车碰撞试验、车载数据采集，在汽车研发生产的整个过程中，NI 通过为控制、仿真、设计和测试提供统一而通用平台，有效节省了各个阶段耗费的时间和成本。 如果您想报名参加此次活动请点击：NI汽车车辆行业测控技术巡回研讨会 更多详细信息，请浏览下列网站：//www.ni.com/automotive/zhs/ |
